Inhalt
Theoretische Behandlung von
- Strahlengang in einem REM
- Wechselwirkung von Primärelektronen und Materie:
Signale im REM, Abbildung von Präparatoberflächen mit SE und RE, Auflösungsgrenze, Signalverarbeitung in einem REM, Kathodensysteme, Informationsgehalt von REM-Bildern
- Theorie der Röntgenmikrobereichsanalyse
Selbständige Bedienung eines REM
- Probenoptimierte Einstellung aller Geräteparameter:
Arbeitsabstand, Beschleunigungsspannung, Strahlstrom, Strahldurchmesser
- Aufnahme von SE- und RE-Bildern
- Bilddokumentation: Digitale Dokumentation
- Bilddeutung
- Freie Übungen: Mikroskopieren eigener Proben
Präparation
- Präparation von elektrisch leitenden und elektrisch nichtleitenden Proben
- Methoden zur Beschichtung elektrisch nichtleitender Präparate
Praktische energiedispersive Mikrobereichsanalyse
- Aufnahme von Spektren und Peakidentifizierung
- Einfluss von Beschleunigungsspannung und Strahlstrom auf die Analyseergebnisse
Einführung in die Niedervakuum-Rasterelektronenmikroskopie
Einführung in die WDX-Analytik
Dokumentation erworbener Kenntnisse
Prüfung der in R-2 erworbenen theoretischen und praktischen Kenntnisse
Folgelehrgang
Lehrgang R-3
Zielgruppe
Teilnehmer des Lehrgangs R-1, Anwender mit einer umfassenden Einführung in die Bedienung eines Rasterelektronenmikroskops und mit intensiver Arbeitserfahrung
Lehrgangsleitung
Priv.- Doz. Dr. P. F. Schmidt
Termin
03.03. – 07.03.2025
Montag – Donnerstag: 08:30 – 13:15 Uhr und 14:15 – 17:30 Uhr
Freitag: 08:30 – 13:00 Uhr
Veranstaltungsort
Fachhochschulzentrum FHZ
Corrensstraße 25
48149 Münster
Teilnahmegebühr
2.400,- EUR (mehrwertsteuerfrei) Die Teilnahmegebühr schließt ein: Lehrgangsunterlagen, Mittagessen, Pausengetränke, ein gemeinsames Abendessen
Veranstalter
Akademie für Elektronenmikroskopie und Analytik gemeinnützige GmbH
Anmeldung
Bitte nutzen Sie für die Anmeldung folgendes Online-Formular:
