Erweiterung theoretischer und praktischer Kenntnisse
- Bedienung und Einsatz eines REM: Abbildung und Interpretation von REM-Bildern
- Durchführung von EDX-Analysen und Interpretation von EDX-Ergebnissen
- Einführung in die WDX-Analytik
- Informationen über neue Methoden für Abbildung und Analyse
Inhalt
Theoretische Themen
- REM:
Signale im REM: Topographiekontrast, Materialkontrast, Channeling-Kontrast, Probenstrombild, Artefakte: Strahlenschädigung, Abbildungsartefakte
- RE-Detektoren:
Topografie- und Materialkontrast
- 3D-Darstellung
- Kathodensysteme:
W-, LaB6-, CeB6-Kathoden, Schottky-Emitter, kalte FE-Kathode
- EDX:
Moderne Detektorenentwicklung, Halbwertsbreite, Escape-Peak, Linienüberlappung, Summenpeak, Nachweisgrenzen, Auswertung und Interpretation der Spektren, qualitative und quantitative EDX-Analysen, Vermeidung von Fehlern in EDX-Analysen
Praktische Übungen
- REM:
Optimierung der Abbildung mit SE und RE; Einsatz von RE-Detektoren: Optimierung von Materialkontrast und Channelingkontrast; Messung des Strahlstroms; Vermeidung von Abbildungsartefakten, Interpretation von REM-Bildern, qualitative und quantitative 3D-Darstellung
- EDX:
Identifizierung von Peaks, Summenpeaks, Escapepeaks, Linienüberlappung, Einfluss von Beschleunigungsspannung und Strahlstrom auf die Information von EDX-Spektren, Nachweis von Elementen in geringer Konzentration, Interpretation von EDX-Analysen
Weitere Abbildungsmethoden und Analyseverfahren werden in Vorträgen bzw. in Übungen vorgestellt:
Übungen:
- Einführung in die WDX-Analyse (Wellenlängen-dispersive Röntgenmikrobereichsanalyse)
- Einführung in die Electron Back Scatter Diffraction (EBSD)
- Mikro-Röntgenfluoreszenzanalyse
- Schichtdickenbestimmungen
- STEM: Transmission im REM
- Herstellung von Mikroquerschnitten
- Mikromanipulation von Proben
- Optische Abbildung von Mikrostrukturen und Analyse der chemischen Zusammensetzung mittels der Laserspektroskopie (DM6 M LIBS (Leica))
Vorträge:
- Alternative Rastermethoden
- Kathodolumineszenz
- Cryo-Methoden
- REM und EDX in der Polymertechnologie
- Mikro-CT
- Helium-Ionen-Mikroskopie
Der Lehrgang R-3 erweitert und vertieft die theoretischen und praktischen Kenntnisse in der Bedienung und dem Einsatz eines Rasterelektronenmikroskops und gibt Hinweise, Bilder basierend auf den Kenntnissen der Wechselwirkung zu interpretieren.
Der Lehrgang erweitert und vertieft ebenso die theoretischen und praktischen Kenntnisse in der Durchführung von EDX-Analysen und ermöglicht die richtige Beurteilung von EDX-Analysenergebnissen und führt ein in die WDX-Analyse.
Dokumentation erworbener Kenntnisse
Prüfung der in R-3 erworbenen theoretischen und praktischen Kenntnisse
Zielgruppe
Teilnehmer des Lehrgangs R-2, Anwender mit langjähriger REM-Erfahrung, Interessenten für neue Methoden zur Abbildung und Analyse
Lehrgangsleitung
Priv.- Doz. Dr. P. F. Schmidt
Termin
10.03. – 14.03.2025
Montag – Donnerstag: 08:30 – 13:15 Uhr und 14:15 – 17:30 Uhr
Freitag: 08:30 – 13:00 Uhr
Veranstaltungsort
Fachhochschulzentrum FHZ
Corrensstraße 25
48149 Münster
Teilnahmegebühr
2.400,- EUR (mehrwertsteuerfrei) Die Teilnahmegebühr schließt ein: Lehrgangsunterlagen, Mittagessen, Pausengetränke, ein gemeinsames Abendessen
Veranstalter
Akademie für Elektronenmikroskopie und Analytik gemeinnützige GmbH
Anmeldung
Bitte nutzen Sie für die Anmeldung folgendes Online-Formular:
