Da REM mit einem erhöhten Druck in der Probenkammer die direkte Untersuchung von Isolatoren ohne Aufbringung einer leitfähigen Schicht ermöglichen, weil bei einem erhöhten Probenkammervakuum keine Aufladungseffekte auftreten, können z.B. auch feuchte und nasse Proben ohne vakuumbedingte Strukturveränderungen untersucht werden. Dieser Lehrgang wendet sich an alle, die ein REM bei einem Probenkammervakuum bis zu 300 Pascal oder ein REM bei einem Probenkammervakuum bis zu 3000 Pascal betreiben und praktische Erfahrungen für den Betrieb eines NIEDERVAKUUM-REM gewinnen wollen. Eingegangen wird insbesondere auf die Abbildungsparameter wie Druck, Temperatur, Arbeitsabstand, Gaszusammensetzung, Auflösung, Signalregistrierung und NV-REM spezifische Kontraste.
Programm
Eigene Proben können untersucht werden.
Arbeitsunterlagen werden zur Verfügung gestellt. Über die Teilnahme an diesem Lehrgang wird eine Bescheinigung ausgestellt.
Wissenschaftliche und technische Mitarbeiter aus Industrie, Großforschungseinrichtungen, Hochschulen oder Behörden, die Kenntnisse und praktische Erfahrungen über Grundlagen und Anwendungen der Rasterelektronenmikroskopie bei erhöhtem Probenkammervakuum gewinnen wollen.
Priv.- Doz. Dr. P. F. Schmidt
12.03. – 14.03.2025
Mittwoch – Donnerstag: 08:30 – 13:15 Uhr und 14:15 – 17:30 Uhr
Freitag: 08:30 – 13:00 Uhr
Fachhochschulzentrum FHZ
Corrensstraße 25
48149 Münster
1.460,- EUR (mehrwertsteuerfrei) Die Teilnahmegebühr schließt ein: Lehrgangsunterlagen, Mittagessen, Pausengetränke, ein gemeinsames Abendessen
Akademie für Elektronenmikroskopie und Analytik gemeinnützige GmbH
Bitte nutzen Sie für die Anmeldung folgendes Online-Formular:
