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Lehrgang EBSD | Electron Backscatter Diffraction (EBSD): Die kristallographische Charakterisierung im REM

März 4, 2025 @ 14:00 - März 7, 2025 @ 13:00

Inhalt

Die Beugung rückgestreuter Elektronen im Rasterelektronenmikroskop stellt nicht nur sehr spezifische Anforderungen an die Gerätetechnik, sondern konfrontiert den Nutzer nicht selten mit Problemen, sobald sich an einem gewohnten Messablauf etwas ändert. Das kann eine “unbekannte” Phase sein, die analysiert werden soll, oder es müssen die Messbedingungen neu überdacht werden, weil schlecht leitende Werkstoffe untersucht werden sollen. Oft ist es aber einfach nur die Suche nach dem Weg, wie nach der Messung das Ergebnis in eine der Fragestellung gerecht werdenden Form gefunden und dann präsentiert werden kann.
In den Vorträgen sollen daher Grundlagen der Kristallbeschreibung, die wichtigsten Darstellungswerkzeuge erläutert und in Schwerpunkten die einzelnen Parameter und Einflussgrößen diskutiert werden. Ziel ist es, dem Nutzer ein generelles Verständnis der ablaufenden Prozesse zu vermitteln. Damit sollte er/sie in der Lage sein, besser auf konkrete Probleme reagieren zu können und optimale Lösungswege zu finden.
In Demonstrationen und freien Übungen können ihre analytischen Fragen und Probleme theoretisch und praktisch an den Geräten mit entsprechender Software behandelt werden.

 

Programm

  1. Einführung kristallographischer Grundbegriffe:
    Kristallgitter und Kristallstruktur, Definition von Ebenen und Richtungen im Kristallgitter bzw. deren Indizierung, Winkel zwischen Ebenen
  2. Stereographische und gnomonische Projektion
  3. Kristallorientierung/Missorientierungs-Beschreibung: Orientierungsmatrix, Euler-Winkel, Drehachse/Drehwinkel, Rodrigues-Vektor, Quarternionen, Klassifizierung von Korngrenzen
  4. Einzelorientierung und kristallographische Textur:
    Polfigur, inverse Polfigur, ODF, MODF, Kornstatistik, Orientierungsstereologie
  5. Die (derzeitige) Interpretation von EBSD Pattern:
    Entstehung, Informationsgehalt, Wege zur Intensität, Simulation, Arbeitsweise von BSE- und FSE-Detektor
  6. Typische Messvorbereitung:
    Probennahme, Präparationstechniken und Montage
  7. Praktische Übungen am REM
  8. Orientierungs- bzw. Missorientierungsmessungen:
    systembedingte Unterschiede in Messablauf und -vorbereitung
  9. Experimentelle Einflussgrößen:
    Topographie, Probenkippung, Beschleunigungsspannung, Bildverzeichnungen, Arbeitsabstand, Winkel- und Ortsauflösung, Aufladung, etc.
  10. Softwarebedingte Einflussgrößen:
    Integrationszeit versus Bildmittelung, Auflösung von Bild (Binning) und Houghraum, Untergrund, Indizierungsstrategie (z.B. Band-, Reflektoranzahl)
  11. Typische Fehlerquellen:
    Systemkalibrierung, absolute und relative Orientierung, pseudosymmetrische Phasen, Fehlinterpretation, Datenbereinigung
  12. Methodenkopplung: EBSD – EDS – WDS etc.
    Phasenseparation und -identifikation
  13. EBSD-Anwendungen im Überblick:
    typische Applikationen bis hin zu in-situ Experimente wie 3D-EBSD oder Hochtemperaturuntersuchungen bzw. Deformation im REM

 

Arbeitsunterlagen werden zur Verfügung gestellt. Über die Teilnahme an diesem Lehrgang wird eine Bescheinigung ausgestellt.

Zielgruppe

Wissenschaftliche und technische Mitarbeiter aus Industrie, Forschungseinrichtungen, Hochschulen oder Behörden, die ihre Kenntnisse und praktischen Erfahrungen über Anwendungen in allen Bereichen der kristallographischen Gefüge- und Phasencharakterisierung im REM auffrischen bzw. vertiefen und mehr über das derzeitige Leistungsspektrum der Methode erfahren wollen.

Lehrgangsleitung

Priv.- Doz. Dr. P. F. Schmidt

Termin

04.03. – 07.03.2025
Dienstag: 14:00 – 17:30 Uhr
Mittwoch und Donnerstag: 08:30 – 13:15 Uhr und 14:15 – 17:30 Uhr
Freitag: 08:30 – 13:00 Uhr

Veranstaltungsort

Fachhochschulzentrum FHZ
Corrensstraße 25
48149 Münster

Teilnahmegebühr

1.740,- EUR (mehrwertsteuerfrei) Die Teilnahmegebühr schließt ein: Lehrgangsunterlagen, Mittagessen, Pausengetränke, ein gemeinsames Abendessen

Veranstalter

Akademie für Elektronenmikroskopie und Analytik gemeinnützige GmbH

 

Anmeldung

Bitte nutzen Sie für die Anmeldung folgendes Online-Formular:

 

Online-Anmeldung

Details

Beginn:
März 4, 2025 @ 14:00
Ende:
März 7, 2025 @ 13:00
Veranstaltungskategorie:
Webseite:
http://www.akademie-elektronenmikroskopie.de/ebsd_2025.php

Veranstalter

Akademie für Elektronenmikroskopie und Analytik gGmbH
Telefon
+49 251 / 980-1271
E-Mail
info@akademie-elektronenmikroskopie.de
Veranstalter-Website anzeigen

Veranstaltungsort

Fachhochschulzentrum FHZ
Corrensstraße 25
Münster, 48149 Germany
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