Inhalt Vermittlung theoretischer und praktischer Grundkenntnisse über den Aufbau, die Funktionsweise und die Bedienung eines Rasterelektronenmikroskops.   Prinzip der Rasterelektronenmikroskopie Abtastprinzip, Schärfentiefe, Entstehung von SE- und RE-Bildern Grundlagen der Bildspeicherung   Aufbau eines REM Vakuumsystem, Strahlerzeugung und Strahlengang Bilddokumentation   Selbständige Bedienung eines REM Einbau von Präparaten: Präparatgröße, Arbeitsabstand, Kippwinkel Optimierung des Strahlenganges: Einstellung von […]

Inhalt Theoretische Behandlung von Strahlengang in einem REM Wechselwirkung von Primärelektronen und Materie: Signale im REM, Abbildung von Präparatoberflächen mit SE und RE, Auflösungsgrenze, Signalverarbeitung in einem REM, Kathodensysteme, Informationsgehalt von REM-Bildern Theorie der Röntgenmikrobereichsanalyse   Selbständige Bedienung eines REM Probenoptimierte Einstellung aller Geräteparameter: Arbeitsabstand, Beschleunigungsspannung, Strahlstrom, Strahldurchmesser Aufnahme von SE- und RE-Bildern Bilddokumentation: Digitale […]

Inhalt Die Beugung rückgestreuter Elektronen im Rasterelektronenmikroskop stellt nicht nur sehr spezifische Anforderungen an die Gerätetechnik, sondern konfrontiert den Nutzer nicht selten mit Problemen, sobald sich an einem gewohnten Messablauf etwas ändert. Das kann eine "unbekannte" Phase sein, die analysiert werden soll, oder es müssen die Messbedingungen neu überdacht werden, weil schlecht leitende Werkstoffe untersucht […]

Erweiterung theoretischer und praktischer Kenntnisse Bedienung und Einsatz eines REM: Abbildung und Interpretation von REM-Bildern Durchführung von EDX-Analysen und Interpretation von EDX-Ergebnissen Einführung in die WDX-Analytik Informationen über neue Methoden für Abbildung und Analyse Inhalt Theoretische Themen REM: Signale im REM: Topographiekontrast, Materialkontrast, Channeling-Kontrast, Probenstrombild, Artefakte: Strahlenschädigung, Abbildungsartefakte RE-Detektoren: Topografie- und Materialkontrast 3D-Darstellung Kathodensysteme: W-, […]

Inhalt Da REM mit einem erhöhten Druck in der Probenkammer die direkte Untersuchung von Isolatoren ohne Aufbringung einer leitfähigen Schicht ermöglichen, weil bei einem erhöhten Probenkammervakuum keine Aufladungseffekte auftreten, können z.B. auch feuchte und nasse Proben ohne vakuumbedingte Strukturveränderungen untersucht werden. Dieser Lehrgang wendet sich an alle, die ein REM bei einem Probenkammervakuum bis zu […]

Inhalt Partikelanalyse mittels optischer und elektronenmikroskopischer Verfahren in Vorträgen und Übungen Restschmutzanalyse/technische Sauberkeit/Probenvorbereitung Einschlussanalytik: Stahl/nichtmetallische Einschlüsse/Probenvorbereitung Einschlussanalytik: Intermetalle Technische Sauberkeit – Grundlegende Normen Aspekte der Qualitätssicherung Gerätekalibirierung Korrelative Partikelanalyse Optische Abbildung und Analyse der chemischen Zusammensetzung von Partikeln mittels der Laserspektroskopie (DM6 M LIBS-Leica) erweiterte Analytik mit FIB, EBSD / TKD Über die Teilnahme an […]